Thiết bị Quang phổ huỳnh quang tia X vi điểm (W Series Micro XRF)
Mô tả:
Công ty TNHH Đạt Hiển xin giới thiệu sản phẩm.
W Series Micro XRF của Bowman là dòng thiết bị huỳnh quang tia X vi điểm (Micro XRF) được thiết kế cho các ứng dụng đo độ dày lớp phủ và phân tích thành phần với độ chính xác cao, đặc biệt phù hợp cho sản xuất công nghiệp, QC và R&D. So với A Series (cao cấp nhất), W Series mang lại sự cân bằng tối ưu giữa hiệu năng, độ chính xác và chi phí đầu tư.
Thiết bị sử dụng công nghệ Micro XRF kết hợp quang học hội tụ, cho phép đo chính xác các lớp phủ mỏng trên linh kiện điện tử, PCB, connector, đầu nối và các chi tiết mạ kim loại. W Series đáp ứng tốt các yêu cầu đo trong ngành điện – điện tử, mạ điện, ô tô và cơ khí chính xác.
Ưu điểm nổi bật của W Series Micro XRF
- Đo độ dày lớp phủ chính xác, không phá hủy
Phù hợp cho kiểm soát chất lượng trong sản xuất hàng loạt. - Micro XRF linh hoạt, dễ vận hành
Thiết kế thân thiện người dùng, phù hợp cả phòng QC và phòng thí nghiệm. - Hệ thống quan sát trực quan
Camera hỗ trợ định vị điểm đo nhanh, giảm sai sót thao tác. - Tự động hóa đo đa điểm
Hỗ trợ đo nhiều vị trí trên cùng mẫu, nâng cao độ lặp lại và năng suất. - Phù hợp nhiều loại mẫu
PCB, linh kiện mạ, connector, chi tiết kim loại nhỏ đến trung bình.
Ứng dụng điển hình
- Đo độ dày lớp mạ Au, Ni, Cu, Sn, Ag
- Kiểm soát chất lượng linh kiện điện – điện tử
- Phân tích lớp phủ trong mạ điện & cơ khí chính xác
- QC sản xuất và R&D vật liệu bề mặt


Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.