Kính Hiển Vi Điện Tử Quét Phát Xạ Trường FESEM 4000X CIQTEK

Kính Hiển Vi Điện Tử Quét FESEM 4000X

MÔ TẢ:

CIQTEK SEM4000X là kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM) với thiết kế ổn định, đa dụng và hiệu quả cao. Máy đạt độ phân giải 1.8 nm @ 1.0 kV, dễ dàng đáp ứng các yêu cầu quan sát hình ảnh độ phân giải cao trên nhiều loại mẫu khác nhau. Ngoài ra, SEM4000X có thể được nâng cấp với chế độ Ultra Beam Deceleration, giúp cải thiện đáng kể khả năng quan sát ở điện áp thấp.

Hệ thống sử dụng công nghệ đa đầu dò:

• Đầu dò trong cột (UD): thu tín hiệu electron thứ cấp (SE) và electron tán xạ ngược (BSE) với độ phân giải cao.

• Đầu dò gắn buồng (LD): sử dụng tinh thể nhấp nháy và ống nhân quang, cho độ nhạy và hiệu suất vượt trội, đồng thời tái tạo hình ảnh lập thể chất lượng cao.

Phần mềm điều khiển giao diện trực quan, hỗ trợ nhiều tính năng tự động như: chỉnh sáng/tương phản, lấy nét, hiệu chỉnh stigmator và căn chỉnh chùm tia. Nhờ đó, người dùng có thể nhanh chóng thu được hình ảnh siêu nét ở độ phân giải cực cao.

Model FESEM 4000X

ĐẶC ĐIỂM – TÍNH NĂNG:

• Độ phân giải cao

• Công nghệ đa đầu dò

• Căn chỉnh đơn giản

• Thiết kế dựa trên nền tảng cao cấp

• Công nghệ Ultra Beam Deceleration Mode

• Khả năng mở rộng linh hoạt

ỨNG DỤNG:

PA-Vật liệu composite sợi thủy tinh, 10kV / BSED	Gốm sứ, 10 kV / ETD	Vết gãy trên kim loại, 15 kV / ETD

Chip, 5kV / ETD	Phấn hoa súp lơ, Chân không thấp 70Pa / 10kV / LVD	Chất keo bạc, 1kV / ETD

… và nhiều ứng dụng khác, v.v.